Вымяральнік напружання паверхні шкла JF-2E

Кароткае апісанне:

Вымяральнік паверхневага напружання шкла JF-2E выкарыстоўваецца для вымярэння паверхневага напружання хімічна загартаванага шкла і тэрмічна загартаванага шкла метадам аптычнага хвалявода. JF-2E - гэта партатыўная версія з КПК. Ён адпавядае стандарту ASTM C 1422. Ён таксама мае простыя ў эксплуатацыі характарыстыкі, невялікія памеры, партатыўнасць і памочнік уручную (толькі праграмнае забеспячэнне для ПК).

Дашліце нам ліст

Падрабязнасці прадукту

Тэгі прадукту

Апаратнае забеспячэнне

Падобна з JF-1E і JF-3E, сістэма ў асноўным складаецца з КПК і вымяральнага прыбора. Дзве часткі злучаны заціскам. Кут КПК і асноўнага корпуса можна рэгуляваць з дапамогай шарніра.

У ніжняй частцы прыбора ёсць прызма. Па абодвух баках прыбора ёсць дзве рэгуляваныя ручкі. Правая ручка прызначана для рэгулявання выявы, левая — для рэгулявання месцазнаходжання крыніцы святла.

Праграмнае забеспячэнне

Праграмнае забеспячэнне мае два рэжымы: рэжым вымярэння і рэжым усталёўкі. У рэжыме вымярэння выява ў рэжыме рэальнага часу адлюстроўваецца ў верхняй частцы, вынікі — у левай ніжняй частцы, а кнопкі «Пуск/Стоп» і «Устанавіць» — у правай ніжняй частцы. Аператар можа пачаць вымярэнне, націснуўшы кнопку «Пуск», і атрымаць доступ да рэжыму ўсталявання, націснуўшы кнопку «Устанавіць».

Інтэрфейс вымярэння напружання на паверхні хімічна загартаванага шкла адрозніваецца ад вымярэння напружання на паверхні тэрмічна загартаванага шкла.

У рэжыме «Налады» задаюцца наступныя параметры: серыйны нумар, вымярэнне тэрмічна загартаванага шкла, таўшчыня шкла, каэфіцыент фотапругкасці, паказчык праламлення шкляной асяродкі і каэфіцыент 1.